粒形分析儀的測量技術(shù)

　　粒形分析儀擁有雙ＣＣＤ成像技術(shù)，包括基準(zhǔn)鏡頭記錄大顆粒的粒度和形態(tài)信息，聚焦鏡頭記錄小顆粒的粒度和形態(tài)信息。兩個(gè)鏡頭既可單獨(dú)使用也可同時(shí)使用，因而能在一個(gè)很寬的粒度范圍內(nèi)得到具有重現(xiàn)性的數(shù)據(jù)結(jié)果。一次進(jìn)樣，同時(shí)測得粒度大小、粒度分布、球形度、對稱性、凹凸度等顆粒綜合信息。

　　粒形分析儀*了樣品折射率測量技術(shù)，對未知折射率的新材料也能得到的粒度測試結(jié)果。粒形分析儀采進(jìn)口半導(dǎo)體泵浦激光器，壽命大于25000小時(shí)；采用進(jìn)口的高精度透鏡組，了微弱的、各角度的散射光信號(hào)無一漏網(wǎng)；采用進(jìn)口的高速CCD與高像遠(yuǎn)心鏡頭，成像清晰無拖尾現(xiàn)象；采用高速顆粒識(shí)別技術(shù)，每分鐘可分析幾萬個(gè)顆粒數(shù)目。總之，該儀器是集激光散射、顯微成像于一體的新一代粒度測試儀器。

　　粒形分析儀采用激光光阻技術(shù),不需要任何假設(shè)或樣品特性,可直接測定微粒的粒度分布(0.1-3600微米)。這種*的分析技術(shù),被稱為“Laser Obscuration Time”激光光阻技術(shù)(LOT)。LOT與其他激光衍射技術(shù)相比的主要優(yōu)勢是其較高的分辨率,通過對小范圍的檢測從而得到更好的測量精度。使用LOT技術(shù)主要好處是,即使有任何其他顆粒或介質(zhì)的物理或化學(xué)性質(zhì)影響,仍得到可靠地測量結(jié)果。配套的軟件,通過分析計(jì)算復(fù)雜的多脈沖信號(hào)光阻時(shí)間,可在幾秒鐘內(nèi)得到清楚和精確的顆粒分布測量結(jié)果。粒形分析儀實(shí)時(shí)可視化采樣,有效地讓用戶可以輕松地監(jiān)測樣品準(zhǔn)備過程或受污染情況,同時(shí)也為了避免樣品無關(guān)的或不必要的組分影響分析結(jié)果。